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更新时间：2024-06-04 08:00:00

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品牌:进口国产

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型号:型号

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>AIC1804CSZ千兆比特的吞吐量，这需要如SynopsysHAPS所提供的先进硬件及验证技术，”QualcommAtheros公司工程总监ManojUnnikrishnan说道。“我们的需要多次运行并进行反复试错。HAPSDeepTraceDebug所提供的高容量采样存储使我们能够快速找出错误并加速整个的验证。此外，HAPSDeepTraceDebug可以帮助我们状态机覆盖、原型机覆盖以及的生成。” 为确保高速接口设计的正确功能，在几毫秒内通常需要几十个采样点。上，设计师不得不做出选择：以消耗大量的FPGA存储资源来捕获冗长的追踪历史记录，还是丢失追踪历史记录的细节可见度来节省FPGA存储资源。通过将Synopsys®Identify®智能集成电路器(IICE™)与一个HAPSDeepTraceDebugSRAM子板配对，HAPSDeepTraceDebug允许许多独特的带有复杂触发条件的探点可被记录，并且在执行时存储大量状态历史记录来提供更深的记录。SRAM子板也可释放FPG上RAM，使其用于为SoC设计的存储模块提供原型。 “GSI技术NBTSRAM被设计到HAPSDeepTraceDebugSRAM的子板之上，这在SoC原型的性能高度优先时，使设计师能够充分利用HAPS的互连总线带宽，”GSI科技市场兼应用工程副总裁DidChapman说道。“我们的SRAM器件同时提供了流水线和直通式操作，以便为SoC原型工程师在快速读取存储器的响应时钟之间进行选择提供了灵活性。GSINBTSRAM系列与新思科技的DeepTraceDebug功能相结合，确保了工程师将他们的HAPS用于SoC存储的IP主控制或者作为一个扩展的调试追踪缓冲器。” “随着各种SoC硬件与的复杂性不断，设计师们需要先进的纠错工具来其验证流程的稳健性，并支持早期的，”新思科技IP与事业部市场副总裁JohnKoeter说道。“HAPSDeepTraceDebug通过确保原型工程师能够去捕获冗长的追踪历史记录来识别设计错误的根本原因，因而代表了复杂SoC的纠错产出率的重大。”

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